Multifunktions-Testsystem


Das Testsystem CATE-256FI ist für den Funktionstest und In-Circuit-Test (MDA) von elektronischen Boards, Systemeinheiten und mechatronischen Prüflingen konzipiert. Der Aufbau basiert auf NI PXI-Module, die individuell nach Applikations-Anforderung konfiguriert werden. Durch den modularen Aufbau können schnell und preisgünstig Erweiterungen realisiert werden. Das System ist als Standalone oder als In-Linie Version verfügbar.    
  

 Basis Konfiguration

► 19” Rack, 50HE, IP55

► 19“ PXI – Rack, 4HE, 12 Slot

► PXI - RT Embedded Contoller

► PPSU Programmierbare

    Spannungsquelle

► PSU Festspannungsqelle

► PXI – DMM mit 7½ Stellen

► PXI – Funktions Generator

► PXI – Analogkarte

► PXI – Digital I/O parallel

► PXI – Relay- Matrix

► PXI – Relay 4x1 MUX

► G12 Virginia Panel

    Prüflingsschnittstelle

High Level Applikationen

Bei entsprechender Konfiguration kann das Testsystem auch im Bereich Luftfahrttechnik eingesetzt werden und wird so auch höchsten Ansprüchen gerecht.