Multifunktions-Testsysteme

Das Testsystem CATE-256FI ist für den Funktionstest und In-Circuit-Test (MDA) von elektronischen Boards, Systemeinheiten und mechatronischen Prüflingen konzipiert. Der Aufbau basiert auf NI PXI-Module, die individuell nach Applikations-Anforderung konfiguriert werden. Durch den modularen Aufbau können schnell und preisgünstig Erweiterungen realisiert werden. Das System ist als Standalone oder als In-Linie Version verfügbar.    

Basis Konfiguration

  • 19” Rack, 50HE, IP55
  • 19“ PXI – Rack, 4HE, 12 Slot
  • PXI – RT Embedded Contoller
  • PPSU Programmierbare Spannungsquelle
  • PSU Festspannungsquelle
  • PXI – DMM mit 7½ Stellen
  • PXI – Funktions-Generator
  • PXI – Analogkarte
  • PXI – Digital I/O parallel
  • PXI – Relay- Matrix
  • PXI – Relay 4×1 MUX
  • G12 Virginia Panel Prüflingsschnittstelle

High Level Applikationen

Bei entsprechender Konfiguration kann das Testsystem auch im Bereich Luftfahrttechnik eingesetzt werden und wird so auch höchsten Ansprüchen gerecht.